品牌：Bruker
型号：2000 PAR-SE/
产品简介：Bruker椭偏仪FilmTek 2000 PAR-SE ——用于几乎所有薄膜或产品晶片测量的多模计量
品牌: BRUKER
型号:Dektak XTL
产品简介: 针对300mm尺寸样品进行优化，用于质量保证/质量分析的探针式轮廓仪.
布鲁克公司的新型Dektak XTL探针式轮廓仪系统可容纳多350mm*350mm的样品，将Dektak有意的可重复性和再现性应用于大尺寸晶片及面板制造业。Dektak XTL集成气体隔振装置和方便的交互锁装置使仪器在全封闭工作环境下运行，是当今要求苛刻的生产环境的理想之选。它的双摄像头设置使空间感增强，其高水平自动化可生产量。
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